日本OLYMPUS（奧林巴斯）　OLS4500納米檢測(cè)顯微鏡

型號(hào)：OLS4500納米檢測(cè)顯微鏡

品牌：日本OLYMPUS（奧林巴斯）

會(huì)員價(jià)格：面議

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日本OLYMPUS（奧林巴斯）

“將社會(huì)價(jià)值引入公司內(nèi)部”這個(gè)是奧林巴斯企業(yè)的管理哲學(xué)。作為一名社會(huì)的成員，奧林巴斯在處理與個(gè)體關(guān)系中扮演著重要的作用。因此，奧林巴斯采納了將社會(huì)價(jià)值引入公司內(nèi)部，接受社會(huì)價(jià)值觀作為其商業(yè)思想的重要組成部分。自從那時(shí)，奧林巴斯明確了自己的位置，主要是一個(gè)相機(jī)生產(chǎn)商和發(fā)達(dá)的胃內(nèi)照相...[查看更多]

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美國(guó)OLYMPUS OLS4500納米檢測(cè)顯微鏡由愛(ài)儀器儀表網(wǎng)代理，本產(chǎn)品是可以實(shí)現(xiàn)從50倍到*高100萬(wàn)倍的超大范圍的觀察和測(cè)量的納米檢測(cè)顯微鏡，現(xiàn)在熱賣(mài)中，如需購(gòu)買(mǎi)，可通過(guò)ai1718.com的客服熱線聯(lián)系我們!

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
?OLS4500是一款集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能于一體的新型納米檢測(cè)顯微鏡，可以實(shí)現(xiàn)從50倍到*高100萬(wàn)倍的超大范圍的觀察和測(cè)量
?實(shí)現(xiàn)納米級(jí)觀測(cè)的新型顯微鏡，不會(huì)丟失鎖定的目標(biāo)
?縮短從放置樣品到獲取影像的工作時(shí)間
?一體機(jī)的機(jī)型，所以無(wú)需重新放置樣品只要在1臺(tái)裝置上切換倍率、觀察方法*能夠靈活應(yīng)對(duì)新樣品
?使用光學(xué)顯微鏡的多種觀察方法，迅速找到觀察對(duì)象
?使用激光顯微鏡，可以觀察到光學(xué)顯微鏡中難以觀察到的樣品影像
?實(shí)現(xiàn)了無(wú)縫觀察，不會(huì)丟失觀察對(duì)象
?迅速發(fā)現(xiàn)觀察對(duì)象，在SPM上正確完成觀察
?簡(jiǎn)單操作，可以迅速獲得測(cè)量結(jié)果
?使用向?qū)Чδ埽杂煞糯骃PM影像
?優(yōu)異的分析功能，應(yīng)對(duì)各種測(cè)量目的

產(chǎn)品特點(diǎn)：
?配有涵蓋了低倍觀察到高倍觀察的4種物鏡，并在電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器上裝配了SPM單元
?可以無(wú)縫切換倍率和觀察方法，不會(huì)丟失觀察對(duì)象
?此外，該款顯微鏡可以進(jìn)行納米級(jí)觀測(cè)
?涵蓋了低倍到高倍觀察，并配有多種觀察方法可以迅速發(fā)現(xiàn)觀察對(duì)象
?可以完成低倍到高倍的大范圍倍率觀察
?不僅如此，先進(jìn)光學(xué)技術(shù)打造的光學(xué)顯微鏡帶來(lái)多種觀察方法，可以容易的發(fā)現(xiàn)觀察對(duì)象
?對(duì)于光學(xué)顯微鏡難以找到的觀察對(duì)象，還可以使用激光顯微鏡進(jìn)行觀察。在激光微分干涉（DIC）
?觀察中，可以進(jìn)行納米級(jí)微小凹凸的實(shí)時(shí)觀察
?放置好樣品后，所有的操作都在1臺(tái)裝置上完成
?可以迅速，正確的把觀察對(duì)象移到SPM顯微鏡下面，所以只要掃描1次*能獲取所需的SPM影像
?OLS4500是把光學(xué)顯微鏡、激光顯微鏡、探針顯微鏡融于一體的一體機(jī)，所以無(wú)需重新放置樣品，即可自由切換3種顯微鏡進(jìn)行觀察和評(píng)價(jià)
?這3種顯微鏡各自持有優(yōu)異的性能，所以能夠高效輸出*佳結(jié)果
?OLS4500采用了短波長(zhǎng)405 nm的激光光源和高N.A.的專(zhuān)用物鏡，實(shí)現(xiàn)了優(yōu)異的平面分辨率
?能以鮮明的影像呈現(xiàn)出光學(xué)顯微鏡中無(wú)法看到的觀察對(duì)象。在激光微分干涉（DIC）模式中還可以實(shí)時(shí)觀察納米級(jí)的微小凹凸
?跟從向?qū)М?huà)面的指示，可輕松操作的6種SPM測(cè)量模式
?裝配了激光掃描顯微鏡，靈活應(yīng)對(duì)多種樣品
?采用了有著高N.A. 的專(zhuān)用物鏡和專(zhuān)用光學(xué)系統(tǒng)（能*大限度發(fā)揮405 nm 激光性能）
?LEXT OLS4500 可以*地測(cè)量一直以來(lái)無(wú)法測(cè)量的有尖銳角的樣品
?高度分辨率10 nm，輕松測(cè)量微小輪廓
?可用于傳統(tǒng)的線粗糙度測(cè)量，也可用于信息量較多的面粗糙度測(cè)量
?從大范圍拼接影像中指定目標(biāo)區(qū)域
?在面粗糙度測(cè)量中詳細(xì)掌握粗糙度的分布和特點(diǎn)
?多種觀察模式在影像中呈現(xiàn)表面形狀和物性

LSM部分	光源、檢出系統(tǒng)			光源：405 nm半導(dǎo)體激光、檢出系統(tǒng)：光電倍增管
	總倍率			108～17,280X
	變焦			光學(xué)變焦：1～8X
	測(cè)量	平面測(cè)量	重復(fù)性	100x : 3σn-1=0.02μm、50x：3σn-1=0.04μm、20x：3σn-1=0.1μm
		平面測(cè)量	正確性	測(cè)量值的±2%以內(nèi)
		高度測(cè)量	方式	物鏡轉(zhuǎn)換器上下驅(qū)動(dòng)方式
			行程	10mm
			內(nèi)置比例尺	0.8nm
			移動(dòng)分辨率	10nm
			顯示分辨率	1nm
			重復(fù)性	100x :σn-1= 0.012μm、50x：σn-1＝0.012μm、20x：σn-1＝0.04μm
			正確性	0.2+L/100 μm以下（L＝測(cè)量長(zhǎng)度）
	彩色觀察部分		光源、檢出系統(tǒng)	光源：白色LED、檢出系統(tǒng)：1/1.8英寸200萬(wàn)像素單片CCD
	彩色觀察部分		變焦	碼變焦：1～8X
	物鏡轉(zhuǎn)換器			6孔電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器
	微分干涉單元			微分干涉滑片：U-DICR、內(nèi)置偏振光片單元
	物鏡			明視場(chǎng)平面半消色差透鏡5X LEXT專(zhuān)用平面復(fù)消色差透鏡20X、50X、100X
	Z對(duì)焦部分行程			76 mm
	XY載物臺(tái)			100 x 100 mm（電動(dòng)載物臺(tái)）
SPM部分			運(yùn)行模式	接觸模式、動(dòng)態(tài)模式、相位模式、電流模式、表面電位模式（KFM）、磁力模式（MFM）
			位移檢出系統(tǒng)	光杠桿法
			光源	659 nm半導(dǎo)體激光
			檢出設(shè)備	光電檢測(cè)器
			*大掃描范圍	X-Y：大 30 μm x 30 μm、Z：大 4.6 μm
			安裝微懸臂	在盒式微懸臂支架上一鍵安裝，使用微懸臂安裝位置調(diào)整專(zhuān)用工裝夾具預(yù)對(duì)位，更換支架時(shí)無(wú)需光學(xué)調(diào)整
系統(tǒng)			總重量	約440 kg（不包含電腦桌）
系統(tǒng)			I額定輸入	100－120 V/220－240 V、600 VA、50/60 Hz

物鏡規(guī)格
型號(hào)	倍率	視場(chǎng)	工作距離（W.D.）	數(shù)值孔徑（N.A.）
MPLFLN5X	108-864X	2,560-320μm	20.0mm	0.15
MPLAPON20XLEXT	432-3,456X	640-80μm	1.0mm	0.60
MPLAPON50XLEXT	1,080-8,640X	256-32μm	0.35mm	0.95
MPLAPON100XLEXT	2,160-17,280X	128-16μm	0.35mm	0.95

微懸臂規(guī)格
用途	型號(hào)	類(lèi)型	探針數(shù)量	微懸臂		探針		材質(zhì)	金屬膜涂層
用途	型號(hào)	類(lèi)型	探針數(shù)量	共振頻率 (kHz)	彈簧常數(shù) (N/m)	高度 (μm）	前端半徑 (nm）	探針／微懸臂	探針涂層／反射涂層
動(dòng)態(tài)模式／相位模式	OMCL-AC160TS-C3	標(biāo)準(zhǔn)硅膠	24	300	26	14	7	Si / Si	無(wú) / Al
	OMCL-AC160BN-A2	高縱橫比硅膠	12	300	42	9	8	Si / Si	無(wú)／無(wú)
	OMCL-AC240TS-C3	低彈簧常數(shù)硅膠	24	70	2	14	7	Si / Si	無(wú)／Al
接觸模式	OMCL-TR800PSA-1	標(biāo)準(zhǔn)氮化硅	34	73 / 24	0.57 / 0.15	2.9	15	SiN / SiN	無(wú)／Au
表面電位模式	OMCL-AC240TM-B3	電氣測(cè)量專(zhuān)用硅膠	18	70	2	14	15	Si / Si	Pt/Al

我們是這樣為您服務(wù)的

1、技術(shù)溝通，初步判斷問(wèn)題電話與客戶進(jìn)行初步溝通、了解并初步判斷儀器
所出現(xiàn)的故障問(wèn)題。
2、簽訂維修協(xié)議由我公司向客戶發(fā)送儀器維修協(xié)議，客戶需如實(shí)
填寫(xiě)內(nèi)容并回傳以便我司對(duì)儀器做進(jìn)一步判斷。
3、客戶郵寄儀器客戶可按照我司地址郵寄儀器，并將快遞單拍、
照發(fā)送至您的專(zhuān)屬客服進(jìn)行備案。
4、詳細(xì)診斷機(jī)器故障我司收到郵寄儀器后會(huì)對(duì)郵寄的儀器進(jìn)行拍照、
并開(kāi)箱檢驗(yàn)，對(duì)儀器做進(jìn)一步故障判斷。
5、支付維修費(fèi)用如客戶儀器在保修期內(nèi)，我司不收取任何維修費(fèi)，
如客戶儀器在保修期外，我司會(huì)適當(dāng)收取維修費(fèi)。
6、郵寄儀器給客戶我司將維修好的儀器按客戶地址進(jìn)行拍照并郵寄，自此
雖維修協(xié)議終止，但我司將提供終身免費(fèi)答疑及技術(shù)指導(dǎo)。